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Il Triple Ion Beam Milling System, Leica EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali e superfici piane per microscopia elettronica a scansione (SEM), analisi della microstruttura (EDS, WDS, Auger, EBSD) e indagini AFM.
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Fresatura di acciai e metalli - Import exportNumero dei risultati
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